Z 扫描技术：STA-ZSS
Z扫描技术是1989年由Bahae提出并进行分析描述的，传统的简并四波混频法难以区分非线性折射和非线性吸收，也难以区分非线性折射率的正负。而Z扫描法完全克服了这些困难，逐渐成为简单而流行的实验技术，用于表征光学材料。样品沿聚焦高斯光束的轴线平移，并测量远场强度作为样品位置的函数。该方法实验装置简单，测量灵敏度高，并且能够测量非线性折射率大小、正负以及非线性吸收系数等。
实验装置
特点
- 光谱响应范围为0.19~15um的光电探测器
- 532nm连续波DPSS激光器
- 用户友好、高效便捷的软件界面
- 高灵活度的自由光路
- 实时扫描图像绘制
实验案例
在SPSI测量系统中，物体反射的光被数字微镜装置(DMD)调制，通过光谱仪的入口狭缝，再通过光谱成像仪进行测量，最后由线性阵列探测器CCD检测。
 |  |
Z扫描原理图 | Z扫描曲线 |
长春新产业光电技术有限公司
地址：吉林省长春市高新区锦湖大路888号，130103
0431-87020257 (科研教学) 0431-89216068 (光电仪器)
0431-85681678 (工业加工) 0431-87026332 (娱乐显示)
0431-87025816 (机器视觉) 18504400116 (打标光源)
在线留言
留下您的电话，我们将会尽快和您联系
%E7%AC%AC%E4%B8%80%EF%BC%8C%E6%9C%80%EF%BC%8C%E4%BC%98%E7%A7%80%EF%BC%8C%E5%A2%9E%E5%BC%BA%EF%BC%8C%E4%B8%80%E6%B5%81%EF%BC%8C%E5%8D%93%E8%B6%8A%EF%BC%8C%E9%A2%86%E5%85%88%EF%BC%8C%E5%85%88%E8%BF%9B%EF%BC%8C%E5%BC%95%E9%A2%86
Sorry，当前栏目暂无内容!
您可以查看其他栏目或返回 首页
Sorry，The current column has no content!
You can view other columns or return Home