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显微荧光光谱测量系统


  显微荧光光谱测量系统,可视化精确定位使观测者可以检测样品上不同表面状态的荧光信号,同时在计算机上同步显示所检测位置的微区状态,极大便利了荧光微区检测,使得“所见即所测”成为可能。该平台将优化的共焦显微模块与优良的荧光测量系统相结合,精密的光学设计匹配无限远显微光学系统,优化的光路设计,灵活的结构模块组合,可依据客户要求定制不同波长的显微荧光检测平台,同时新产业公司提供的品质卓越的激光器和光谱仪设备,为客户提供了更多的选择空间。

 

 

特点

  • 可调节稳频激光,避免波长漂移及样品损坏
  • 保证激光焦平面与物镜视场焦平面重合以达到共焦
  • 高稳定性探测器,提高了光谱采集效率及准确性
  • 模块化设计,可自行组装,操作简单,携带方便
  • 波长范围及分辨率可定制
  • 支持Spectral Analysis 5.0软件下载

 

应用

  • 晶体微区荧光光谱检测
  • 微区稀土元素荧光光谱检测
  • 量子点荧光标记微区光谱测量
  • 微纳光子器件微区PL光谱测量
 
 

 

产品型号:Mic-F-Sys 405/ 532 

基本组成  

  • 荧光模块
  • 荧光检测系统
  • 显微镜
 

 

显微镜参数

显微镜型号GMM-580
Z轴调焦系统

粗微动同轴调焦 

微动格值:2um 

带锁紧和限位装置 

X/Y移动平台尺寸210mm*140mm
平台移动范围50mm*75mm
相机500万像素成像系统ISH500 (可选择)
显微物镜5X-100X (可选择)

相机参数

图像芯片CMOS, 彩色, 逐行扫描
芯片尺寸1/2.5 英寸
有效像素500 万
像素尺寸2.2um*2.2um
分辨率(H×V)2592*1944  
帧频

5fps(2592 ×1944 全分辨率) 

21fps(1280*960) 

25fps (1024 ×768) 

38fps (640 ×480) 

色彩深度24bit
信噪比54dB
工作温度(℃)0-60
数据接口高速USB2.0 
镜头接口标准C-mount

激光器参数

波长(nm)

 405±5

532±1

模式

Near TEM00

TEM00

功率稳定性

<1%,3%,5%

<1%,3%,5%

操作模式

CW

CW

预热时间(分钟)

<5

<10

工作温度(℃)

10-35

10-35

预期寿命(小时)

10000

10000

保修期

1年

1年

光谱仪参数

波长范围

405-850nm 

(光谱仪波段及分辨率可订制) 

532-1100nm 

(光谱仪波段及分辨率可订制) 

光学分辨率(nm)

<0.5nm FWHM

像素数量(pixels)

3648

像元尺寸

8um*200um

尺寸(mm)

149*105*46

重量(g)

840

信噪比

300:1全光谱

积分时间

4ms-10s

功耗

450mA@5VDC

数据传输速度

每4ms通过USB2.0全扫描内存 

每18ms通过USB1.1全扫描内存 

输入/输出

5个输入端口和5个输出端口

模拟通道

一个12位模拟输入和一个12位模拟输出

接口类型

30pin

荧光探头参数

光谱范围(nm)

405-850

532-1100

激发波长(nm)

     405

532

探头焦距(mm)

7.5 

探头主体材料

黑色阳极氧化铝材质

光纤配置

两根永久排列的单芯纤 (100μm激发光光纤, 200μm接收光纤) , 

N.A.=0.22, 

SMA905接口, PVC护套/金属护套,

光纤长度:1m

软件

光谱分析

Spectral Analysis 软件

相机成像

ISCapture

操作系统

Windows XP/Win7 (32位和64位)