时间分辨光谱检测系统
时间分辨光谱技术典型的应用是通过对原子分子辐射荧光寿命的测量来获得激发态的寿命、跃迁几率、碰撞截面、反应速率和能量转移等相关信息。
本系统是基于荧光寿命检测方面应用的时域分辨系统，是由脉冲光激发样品产生辐射荧光，然后测量荧光强度随时间的演变关系。荧光的辐射时间一般为纳秒量级，一些磷光样品和稀土化合物的辐射时间会长些，甚至达到毫秒量级。
系统组成
| 半导体激光器 | 可调制 |
| 单色仪 | 波长调谐范围200-1100nm |
| 光电探头 | Si基光电探测器，响应速率1ns |
| 示波器 | 采集速率50MHz |
| 其他 | 样品，样品台，光电探测器，信号发射器，导轨，光纤，光纤座，挡光板等 |
测试信号
 |  |  |
Nd3+在YAG中荧光寿命测量 | Nd3+在YLF中荧光寿命测量 | Yd3+在YAG中荧光寿命测量 |
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